I ~/‗ до 1000 А, U ~/‗ до 1000 В | |
R до 60 кОм, C до 2500 мкФ | |
Тестирование диодов | |
Бесконтактное определение эл. поля |
I ~ до 600 А, U ~/‗ до 600 В | |
R до 60 кОм, С до 2500 мкФ | |
Тестирование диодов | |
Измерение температуры | |
Бесконтактное определение эл. поля |
I~ до 1000 А, U ~/‗ до 1000 В | |
R до 60 кОм | |
C до 2500 мкФ | |
Тестирование диодов | |
Бесконтактное определение эл. поля |
I ~/‗ до 600 А, U ~/‗ до 600 В | |
R до 60 кОм | |
C до 2500 мкФ | |
Тестирование диодов | |
Бесконтактное определение эл. поля |
U ═/~ до 1000 В, I ═/~ до 2000 А | |
R до 40 МОм | |
f до 2 кГц, С до 2 мФ, t до 1000 °С | |
Тестирование диодов | |
Бесконтактное определение эл. поля |
U ═/~ до 600 В, I ~ до 1000 А | |
R до 999,9 Ом | |
f до 500,0 Гц | |
P, Q, S до 600,0 кВт, кВАр, кВА | |
t до 300 °С |
I ~ до 2000 А, U ═/~ до 600 В | |
R до 6 МОм | |
f до 30 кГц, C до 2 мФ | |
Тестирование диодов | |
Бесконтактное определение эл. поля |