| I ═/~ А до 10 А | |
| U ═/~ до 1000 В | |
| R до 40 МОм | |
| f до 1МГц, C до 3 мФ, t до 300 °С | |
| Тестирование диодов |
| I ═/~ до 10 А (TRMS) | |
| U ═/~ до 1000 В (TRMS) | |
| R до 40 МОм | |
| f до 1 МГц, С до 3 мФ, t до 300 °С | |
| Тестирование диодов |
| I ═/~ до 10 А (TRMS) | |
| U ═/~ до 1000 В (TRMS) | |
| R до 50 МОм | |
| f до 1 МГц, C до 25 мФ, t до 1000 °С | |
| Тестирование диодов |
| U ═/~ до 1000 В, I ═/~ до 10 А (TRMS) | |
| R до 60 МОм | |
| f до 50 кГц, С до 2 мФ, t до 1000 °С | |
| Тестирование диодов | |
| Бесконтактное обнаружение эл. поля |
| U ═/~ до 1000 В (TRMS) | |
| I ═/~ до 10 В (TRMS) | |
| R до 60 МОм | |
| f до 1 МГц, С до 25 мФ | |
| Тестирование диодов |
| U ═/~ до 1000 В, I ═/~ до 10 А | |
| R до 60 МОм | |
| f до 50 кГц, C до 2 мФ, t до 1000 °С | |
| Тестирование диодов | |
| U ═/~ до 1000 В, I ═/~ до 8 А | |
| R до 60 МОм | |
| f до 1 МГц, С до 3 мФ, t до 1000 °С | |
| Тестирование диодов | |
| Бесконтактное обнаружение эл. поля |
| U ═/~ до 600 В, I ═/~ до 0,002 А | |
| R до 6 МОм | |
| f до 30 кГц, С до 2 мФ | |
| Тестирование диодов | |
| Бесконтактное обнаружение эл. поля |
До 07.08.2027 года продлён срок действия свидетельства об утверждении типа микроомметров MI 3242 (приказ Росстандарта №1373)
